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软包装的无损密封性测试-真空衰减法

 更新时间:2023-08-31 点击量:1069

      在预包装食品、药品的生产过程中,由于漏封、压穿或包装材料本身存在针孔等缺陷而形成漏气、漏液等现象,都可能会对食品内容物产生不良影响,导致食品受潮、氧化、变质等。这不仅会给企业带来经济损失,也有可能影响消费者健康安全。本标准能有效弥补国内现有食品、药品包装密封性测试标准的不足,为食品、药品和包装行业及相关机构提供另一种可靠的快速定量检测手段,并将在提升企业的产品质量合格率保障消费者健康等方面发挥积极作用。本篇文章山东普创工业科技有限公司根据T/CNFIA 177-2023团体标准为您提供软包装的无损密封性测试-真空衰减法!

检测设备:

                           MLT-M500(T) 微泄漏无损密封测试仪-正.jpg

                                       MLT-V100微泄漏无损密封仪

测试原理:

通过测量包装件在闭合真空测试腔中的压升(真空损失)检测包装的密封性。待测样品置于真空测试腔,通过真空泵把包装产品和测量腔体之间的空气抽走,产生小于3000Pa (即30mbar>或更低的真空室,单位时间内检测试验过程中样品压力差,以此计算待测样品的泄漏率。

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参数设置:

依据产品包装类型(如软质包装、硬质包装等)来选择测试时间及参数。测试时间依据样品大小规格而定,以5 s~~30 s测试时间为宜。

设备清零:

先将设备进行清零,确保仪器运行正常;采用标准漏孔对密封性检测仪测试系统进行泄漏测试,验证其具有稳定的基线泄漏率检出能力。

测量:

将待测试样放入密封性检测仪进行测试,读取测试结果。

计算结果:

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