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包装微泄漏真空衰减密封仪

描述:MLT-V100包装微泄漏真空衰减密封仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。

更新时间:2022-05-17
产品型号:MLT-V100
厂商性质:生产厂家
详情介绍

产品介绍:

MLT-V100 型微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。 专业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件等试样的 无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定 性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。



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技术参数:

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测试原理:

通过标准腔与测试腔的压力比对,来判定测试腔是否存在气体泄漏。  基准容器和被测容器都是确保密封不存在泄漏的,将试样放入被测容器后,由于试样的气体泄漏导致被测容器的压 力变化,通过差压传感器检测到压力的变化量,再通过公式计算可推导出泄漏孔径和泄漏流量。

测试方法:

单传感器测试技术:单传感器一般指使用一个压力传感器,压力传感器与测试腔连接,通过传感器的压 力变化判断测试结果。 此技术检测精度较低,一般可检测5ccm(约25μm漏孔)。 其检测精度取决于压力传感器的精度。

双传感器测试技术:一般指使用压力传感器和差压传感器两种传感器配合,采用双腔对比测试,通过监 控差压传感器的压力变化判断测试结果。 此技术检测精度较高,可以分辨3μ以下的泄漏。

多传感器测试技术:在双传感器技术基础上增加力传感器或其他类型传感器,通过多传感器比较,提高 测试精度和准确度并可以计算出泄漏孔径。

MLT-V100包装微泄漏真空衰减密封仪      MLT-V100包装微泄漏真空衰减密封仪

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